研究人員通常采用以下方法確定 PTFE-MBR膜的孔徑和孔隙率:
一、確定孔徑的方法
1. 泡點法:
- 原理:泡點法是基于氣體在液體中的滲透原理。當膜被浸潤在液體中時,氣體在一定壓力下開始通過膜孔。當壓力逐漸增加到某一值時,氣體將首先從最大的孔中逸出,形成氣泡,這個壓力被稱為泡點壓力。根據(jù)泡點壓力與孔徑的關(guān)系,可以計算出膜的平均孔徑。
- 操作過程:首先將待測膜浸泡在特定的浸潤液中,通常是低表面張力的液體,如異丙醇或乙醇。然后通過逐漸增加氣體壓力,觀察膜表面出現(xiàn)氣泡的情況。記錄下出現(xiàn)第一個氣泡時的壓力值,根據(jù)相關(guān)公式計算膜的平均孔徑。例如,對于圓柱形孔,孔徑計算公式為$d = 4gammacos heta/P$,其中$d$是孔徑,$gamma$是浸潤液的表面張力,$ heta$是浸潤液與膜材料的接觸角,$P$是泡點壓力。
- 優(yōu)點:操作相對簡單,能夠快速得到膜的平均孔徑信息。對于孔徑分布較窄的膜,結(jié)果較為準確。
- 局限性:對于孔徑分布較寬的膜,只能得到平均孔徑,無法準確反映孔徑分布情況。
2. 壓汞法:
- 原理:壓汞法利用汞在高壓下能夠進入固體材料孔隙的特性。通過施加不同的壓力,使汞逐漸進入膜的孔隙中。根據(jù)壓力與進入汞的體積之間的關(guān)系,可以計算出膜的孔徑分布。
- 操作過程:將待測膜放入壓汞儀中,在高壓下將汞注入膜的孔隙中。隨著壓力的增加,汞逐漸填充較小的孔隙。通過測量注入汞的體積與壓力的變化,可以得到孔徑分布曲線。
- 優(yōu)點:能夠測量較大范圍的孔徑,從納米級到微米級??梢缘玫捷^為詳細的孔徑分布信息。
- 局限性:汞具有毒性,操作過程需要嚴格的安全措施。對于一些親水性較強的膜,汞可能無法完全浸潤,導致測量結(jié)果不準確。
3. 掃描電子顯微鏡(SEM):
- 原理:利用電子束掃描膜的表面和截面,通過檢測反射或透射的電子信號,生成高分辨率的圖像。通過觀察圖像中膜的孔結(jié)構(gòu),可以直接測量孔徑大小。
- 操作過程:將膜樣品進行適當?shù)奶幚?,如切割、鍍金等,然后放入掃描電子顯微鏡中進行觀察。在圖像上選擇多個代表性的區(qū)域,測量孔的直徑,并計算平均孔徑。
- 優(yōu)點:可以直觀地觀察膜的微觀結(jié)構(gòu),提供詳細的孔徑信息。對于不同形狀的孔也能進行準確測量。
- 局限性:只能得到局部的孔徑信息,需要多個區(qū)域的測量才能反映整體情況。樣品制備過程可能會對膜的結(jié)構(gòu)造成一定的影響。
二、確定孔隙率的方法
1. 稱重法:
- 原理:根據(jù)膜的質(zhì)量、體積和材料密度之間的關(guān)系來計算孔隙率??紫堵实扔谀ぶ锌紫兜捏w積與總體積之比。
- 操作過程:首先測量干膜的質(zhì)量$m_1$,然后將膜浸泡在已知密度的液體中,使其充分浸潤,測量浸潤后膜的質(zhì)量$m_2$。根據(jù)液體的密度$ ho$和膜的體積$V$(可以通過測量膜的尺寸計算得到),孔隙率計算公式為$epsilon = (m_2 - m_1)/ ho V$。
- 優(yōu)點:操作簡單,不需要復雜的儀器設(shè)備。
- 局限性:對于一些吸水性較強的膜,可能會導致測量結(jié)果不準確。需要準確測量膜的體積和質(zhì)量,對測量精度要求較高。
2. 吸液法:
- 原理:利用膜對特定液體的吸收性能來確定孔隙率。將膜浸泡在已知密度的液體中,使其充分吸收液體,然后根據(jù)吸收液體的質(zhì)量和液體的密度計算孔隙的體積,進而得到孔隙率。
- 操作過程:選擇一種與膜材料相容性好且不引起膜膨脹的液體,如乙醇或異丙醇。將干膜稱重后浸泡在液體中,一段時間后取出,用濾紙吸干表面多余的液體,再次稱重。根據(jù)吸收液體的質(zhì)量和液體的密度,以及膜的體積,計算孔隙率??紫堵视嬎愎綖?epsilon = m_{liquid}/ ho_{liquid}V$,其中$m_{liquid}$是吸收液體的質(zhì)量,$ ho_{liquid}$是液體的密度,$V$是膜的體積。
- 優(yōu)點:可以較為準確地測量孔隙率,尤其適用于孔隙率較高的膜。
- 局限性:需要選擇合適的液體,確保液體能夠充分填充膜的孔隙且不與膜發(fā)生化學反應(yīng)。操作過程中需要注意排除膜表面吸附的液體對測量結(jié)果的影響。
3. 氣體吸附法:
- 原理:基于氣體在固體表面的吸附原理。通過測量膜對特定氣體(如氮氣)的吸附量,利用吸附等溫線模型計算膜的比表面積和孔隙體積,進而確定孔隙率。
- 操作過程:將膜樣品放入氣體吸附儀中,在不同的壓力下測量膜對氣體的吸附量。根據(jù)吸附等溫線數(shù)據(jù),采用合適的模型(如 BET 模型)計算膜的比表面積和孔隙體積??紫堵视嬎愎綖?epsilon = V_{pore}/V_{total}$,其中$V_{pore}$是孔隙體積,$V_{total}$是膜的總體積。
- 優(yōu)點:可以測量微孔和介孔范圍內(nèi)的孔隙率,提供詳細的孔隙結(jié)構(gòu)信息。
- 局限性:儀器設(shè)備較為復雜,操作要求較高。對于一些大孔較多的膜,測量結(jié)果可能不準確。